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Integrated circuit design, fabrication, and test / Peter Shepherd

Public ISBD Titre : Integrated circuit design, fabrication, and test Type de document : texte imprimé Auteurs : Peter Shepherd Editeur : New York : McGraw-Hill Année de publication : 1996 Importance : xv, 223 p. Présentation : ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-07-057278-2 Note générale : Includes bibliographical references and index. Langues : Anglais (eng) Mots-clés : Integrated circuits--Computer-aided design. Integrated circuits--Testing. Index. décimale : 621.381.5 Résumé : Integrated circuit design, fabrication, and test [texte imprimé] / Peter Shepherd . - New York : McGraw-Hill, 1996 . - xv, 223 p. : ill. ; 24 cm. ISBN : 978-0-07-057278-2 Includes bibliographical references and index. Langues : Anglais (eng) Mots-clés : Integrated circuits--Computer-aided design. Integrated circuits--Testing. Index. décimale : 621.381.5 Résumé :

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